표면 결함 검사에서 영상의 VVC 와 VOV 특징에 관한 연구
전영민(Young-Min Jeon), 지홍근(Hone-Geun Ji), Guillaume Guarino, 배유석(You-Suk Bae)
Published in 한국컴퓨터정보학회 학술발표논문집 (2018)
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Published in 한국컴퓨터정보학회 학술발표논문집 (2018)
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