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電気化学反応を用いた金属ナノワイヤーの形成とそのデバイス応用
by
長谷川, 剛
,
寺部, 一弥
,
阪本, 利司
,
鶴岡, 徹
,
青野
,
正和
Published in
Journal of the Vacuum Society of Japan
(2009)
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走査マルチプローブ顕微鏡を使ったナノワイヤーの電気輸送特性計測
by
久保, 理
,
新ヶ谷, 義隆
,
青野
,
正和
,
中山, 知信
Published in
Journal of the Vacuum Society of Japan
(2008)
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チップで描く高分子鎖配線
by
大川, 祐司
,
高城, 大輔
,
青野
,
正和
Published in
高分子
(2007)
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ナノドミノ倒しによる構造完全な分子細線の作成
by
大川, 祐司
,
青野
,
正和
Published in
日本物理学会誌
(05.07.2002)
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Creation of Molecular Nanowires without Any Defects by Nano Domino Effect
by
Okawa, Yuji
,
Aono, Masakazu
Published in
Butsuri
(05.07.2002)
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表面計測技術
by
青野
,
正和
Published in
応用物理
(1992)
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イオンビーム利用の基礎と現状IV.イオンビームアナリシス: 8.同軸型直衝突イオン散乱スペクトロメトリ
by
片山, 光浩
,
青野
,
正和
Published in
RADIOISOTOPES
(15.06.1995)
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液晶分子における常温での単一電子トンネリング
by
根城, 均
,
青野
,
正和
Published in
応用物理
(1993)
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ナノスケールの物性や機能をどう測るか—ナノ構造の「構築」から「計測」へ
by
青野
,
正和
,
姜, 春生
,
中山, 知信
,
奥田, 太一
,
喬, 山
,
櫻井, 亮
,
ティアストループ, カーステン
,
呉, 章華
Published in
応用物理
(1998)
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低速イオン散乱分光による表面格子欠陥の解析
by
青野
,
正和
Published in
応用物理
(1986)
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独立駆動二探針STMシステムの構築
by
高見, 和宏
,
赤井, 恵
,
齋藤, 彰
,
青野
,
正和
,
桑原, 裕司
Published in
精密工学会誌論文集
(2006)
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極高真空容器の表面改質
by
本間, 禎一
,
青野
,
正和
Published in
応用物理
(1992)
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同軸型直衝突イオン散乱分光法 (CAICISS)
by
片山, 光浩
,
青野
,
正和
Published in
応用物理
(1992)
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光電子分光(<特集>表面物性 II. 表面を探る)
by
青野
,
正和
Published in
日本物理学会誌
(05.02.1982)
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直衝突イオン散乱分光 (ICISS)
by
青野
,
正和
Published in
応用物理
(1982)
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Journal Article
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Fundamentals and Present Aspects of Ion Beam Technology IV. Ion Beam Analysis: 8. Coaxial impact-collision ion scattering spectrometry
by
KATAYAMA, Mitsuhiro
,
AONO, Masakazu
Published in
RADIOISOTOPES
(15.06.1995)
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単原子層の原子構造
by
青野
,
正和
,
片山, 光浩
Published in
応用物理
(1988)
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走査トンネル顕微鏡における探針とSi表面との相互作用およびその原子操作への応用
by
青野
,
正和
,
小林, 中
,
内田, 裕久
,
吉信, 淳
Published in
応用物理
(1992)
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V. イオン工学の分析技術への応用
by
青野
,
正和
Published in
電氣學會雜誌
(1989)
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微小領域の機能評価法とその応用: 新しい低速イオン散乱分光法
by
青野
,
正和
,
片山, 光浩
,
神谷, 格
,
野村, 英一
Published in
応用物理
(10.03.1990)
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